原子力显微镜(AFM)

Bruker Dimension ICON 原子力显微镜 (AFM) 是一款高性能的原子力显微镜，专为纳米尺度的表面表征设计，其功能主要有：

1) 表面形貌分析：

提供纳米级分辨率的表面形貌扫描，可以揭示材料表面的微结构、粗糙度等信息。

可测量样品的高低起伏、颗粒尺寸、孔隙结构等。

2) 力谱学功能 (Force Spectroscopy)：

能够测量样品的力-位移曲线，分析分子间的相互作用力、粘附力、弹性模量等物理特性。

用于研究生物分子之间的相互作用、表面力学性质等。

3) 高分辨力成像：

可进行高分辨率的成像，分辨率可以达到亚纳米级，适用于原子尺度的表面分析。

4) 不同模式的扫描：

具备多种扫描模式，如接触模式、轻敲模式、接触模式等，满足不同样品和实验需求。

5) 纳米力学分析：

通过纳米力学测试（如Young’s模量、硬度）来研究材料的弹性、粘性等力学特性。

适用于聚合物、薄膜、涂层等材料的力学性能表征。

6) 3D成像与分析：

提供精确的三维表面形貌图像，可以进行表面粗糙度分析、样品表面特征提取等。